Kosteusmittari Vaisala MHI-41 Kosteusmittapää GANN B 60
Materiaalikosteus GANN RTU 600 Paine-eromittari Testo 512
Dataloggeri Lascar EL-USB-2 Virtausmittari Testo 410-1
IR lämpömittari Raytek ST60 (Fluke-66) Center 309
FLIR T335 lämpökamera
Klikkaa kuvaa nähdäksesi siitä suurennoksen.

Lämpö-, virtaus-, paine-, ja kosteusmittarit

FLIR T335 imfrapuna-lämpökameramme löydät tietoa toiselta sivutamme.

Kosteus, lämpötila, paine- ja virtausmittauksissa käytämme mm. seuraavia mittareita:

  • Suhteellinen kosteus    Vaisala HMI41
  • mittausalue 0 -100 %RH ja -40 - +60 C
  • mitataan rakenteiden suhteellista kosteutta eri menetelmillä (RT 14-10675)

Materiaalikosteus  GANN RTU 600

  • Puunkosteus, rakenteellinen kosteus.
  • Varustettu korjausarvoilla eri puulajeille,automaattisella lämpötilan kompensoinnilla välille -10...+90ºC
  • mittarilla voidaan mitata materiaalikosteuksia

Pintakosteusosoitin  GANN B 60

  • rakennetta rikkomaton mittaustapa suurtaajuudella
  • mittaussyvyys 100 mm
  • mittarilla voidaan mitata materiaalikosteuksia

Puunkosteus GANN M 18

  • piikit 30 – 300 mm

Lämpötila CENTER 309   

  • mittausalue -200 - +1370 C
  • mittarilla voidaan tallentaa 4 anturilla yhtä aikaa lämpötilaa ja sen muutoksia

Lämpötila ja suhteellinen. kosteus LASCAR EL-USB-2+ 

  • mittausalue -35 - +80 C ja 0 – 100 %RH
  • tiedonkeruulaitteella voidaan seurata ilman olosuhteita ja sen muutoksia (kosteus ja lämpötila, esim. kun arvioidaan rakenteiden kuivumista rakentamisen aikana)

Paine-eromittari Testo 512

  • mittausalue 0-2 hPa
  • paine-eromittarilla mitataan esim. huoneiston sisä/ulkotilan paine-ero ennen lämpökuvausta (RT 14-10850)

Virtausmittari Testo 410-1

  • mittausalue 0,4 – 20 m/s ja -10 - +50 C
  • virtausmittarilla mitataan tuulen nopeus ja ulkolämpötila ennen lämpökuvausta

IR lämpömittari Raytek ST60   

  • mittausalue -32 - +600 C
  • lisäanturi Raytek    RTD  -40 – +260 C
  • mittarilla voidaan täydenetää lämpökuvauksen antamia lämpötila-arvoja
  • suurin mahdollinen mitattava lämpötila (600 C) antaa mahdollisuuden myös prosessi- ja laitemittauksiin